設計公司的主要目標是根據市場需求進行芯片研發。在整個設計過程中，有必要始終考慮與測試相關的問題，主要原因如下:
1)隨著消費電子產品的精密化和小型化，各種ic芯片的復雜程度變得更高，芯片中的模塊越來越多，制造工藝越來越先進，對應的失效模式也越來越多。如何完整有效地測試整個芯片，是設計過程中需要考慮的問題。
2)?設計，制造，甚至測試本身都會帶來壹定的失敗。如何保證設計出來的芯片達到設計目標，如何保證制造出來的芯片達到要求的成品率，如何保證測試本身的質量和有效性，從而為客戶提供符合產品規格、質量合格的產品，這些都要求在設計之初就必須考慮測試方案。
3)?成本考慮。越早發現故障，越能減少不必要的浪費；設計和制造的冗余度越高，最終產品的良率越好；同時，如果能夠獲得更有意義的測試數據，還可以反過來給設計制造端提供有用的信息，讓後者有效分析失效模式，提高設計制造良率。