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高溫和低溫下介電測量方法綜述?

高溫和低溫下的介電測量方法有六種。以下是介電測量方法的總結:

同軸探針法:

同軸探針法最適用於液體和半固體(粉末)材料。它簡單、方便且無破壞性。典型的測量系統由網絡分析儀或阻抗分析儀、同軸探頭和軟件組成。

傳輸線方法:

傳輸線法是壹種寬帶測量方法,適用於可加工固體。它需要把MUT放到壹個封閉的傳輸線上。

自由空間法:

自由空間法通過天線將微波能量聚焦(或穿透)在壹大塊材料中。這種方法具有非接觸特性,適用於高溫,特別是毫米波頻率。

共振腔法:

諧振腔法Q值高,可以在特定頻率諧振。材料樣品放入後,諧振器的中心頻率和Q值會發生變化。通過測量有材料和無材料的共振參數,可以計算介電常數的值。

平行板電容法;

平行板電容法通過將薄板材料夾在兩個電極之間形成電容器。這種方法最適合薄膜或液體的低頻精確測量。使用這種方法的典型測量系統由LCR計或阻抗分析儀組成。

電感測量方法:

這種方法通過測量材料(環形磁芯)的電感來推導磁導率。具體操作:在MUT上纏繞幾根導線,測量導線兩端的電感。

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