技術空白點分析結果的表示形式通常是（　　）。

技術空白點分析是指對分析樣本中專利數據進行專利技術功效矩陣分析，即對專利反映的主題技術內容和技術方案的主要技術功能、效果、材料、結構等因素之間的特征進行研究，揭示它們之間的相互關系，尋找技術空白點。這種研究方法的結果常常用功效矩陣圖表的形式來表示。