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如何測量晶圓?

對於集成電路,壹般來說,4英寸晶圓的厚度為0.520 mm,6英寸晶圓的厚度為

0.670 mm左右,晶圓壹定要減薄,否則會對切割刀造成很大的損耗,而且會刮兩次。我們做DIP封裝,4寸晶圓要薄到0.300mm;6英寸的晶片應該薄到大約0.320毫米,誤差為0.020毫米..

測量儀器的厚度用千分尺測量,膜厚壹般用熱波儀測量。通過測量不同點的厚度,得到平均膜厚,壹般反映了同壹時間薄膜的均勻性,可以看到模擬的等高線。

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