塗層厚度的檢測將有助於有效控制每層薄膜的厚度均勻性。但是，對於多層膜，如果要精確測量每壹層的厚度，需要在相應的厚度檢測設備上投入大量的資金，並且隨著膜層的增長而增加，給企業帶來更大的經濟負擔。比較經濟的辦法是對壹些昂貴的鍍膜材料的鍍膜厚度進行測試，同時加強對薄膜整體厚度的測試，以有效控制其他層材料的厚度均勻性。
對於薄膜厚度測量，深圳大成精密壹直在不斷增加R&D投資，並不斷致力於技術創新。大成精密光幹涉測厚儀專門為透明膜開發的光幹涉測厚儀，可以很好的測量單層或多層透明膜的厚度。精度極高，應用廣泛，特別適用於納米厚度要求的透明多層物體的厚度測量。
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