集成電路的識別方法

申請專利號CN03115242.2專利申請日2003.01.29名稱集成電路的版圖識別方法　公開（公告）號CN1521622公開（公告）日2004.08.18類別物理頒證日　優先權申請（專利權）上海芯華微電子有限公司;上海交通大學;同濟大學地址200233上海市宜山路520號中華門大廈16樓　發明（設計）人林爭輝;林濤;戎蒙恬;陳艷;;王海雄國際申請國際公布進入國家日期　專利代理機構上海專利商標事務所代理人王月珍摘要本發明涉及壹種集成電路的版圖識別方法，運用計算機軟件控制的方法加以實現。包括：在計算機中放入版圖的原始信息，對原始信息進行編譯；磁盤文件1存儲編譯的結果；接受磁盤文件1中存儲的編譯結果的信息，繪制出彩色版圖；從磁盤文件1中存儲的編譯結果的信息，提取出電路元件及電路互連表；磁盤文件2存儲提取出的電路元件及電路互連表的信息；將磁盤文件2中存儲的提取出電路元件及電路互連表的信息，輸出電路原理圖的表格；將上述磁盤文件2中存儲的提取出電路元件及電路互連表的信息，繪制電路原理圖，輸出直觀的電路原理圖。本發明通用性強，易直觀，數據結構合理，有較強的實用性，使用簡便，所以易於推廣使用。主權項1、壹種集成電路的版圖識別方法，由計算機軟件系統控制集成電路版圖識別的方法，其特征在於所述的版圖識別方法包括： S1步驟：在計算機中放入版圖的原始信息，集成電路版圖的原始信息是版圖的源程序，這是放在軟盤或磁帶中的壹系列程序，它所描述的是該塊集成電路版圖的全部情況，這正是所要識別的對象的源程序； S2步驟：MASK 1技術，是對上述集成電路版圖的原始信息進行編譯； S3步驟：存儲中間結果的磁盤文件1，是存儲上述MASK 1編譯的結果； S4步驟：MASK 2技術，接受上述磁盤文件1中存儲的編譯結果的信息，從而繪制出集成電路版圖來，即按原始的制版數據，繪制出彩色版圖以供分析之用； S5步驟：MASK 3技術，從上述磁盤文件1中存儲的編譯結果的信息，將版圖源程序經過圖形運算，提取出電路元件及電路互連表； S6步驟：存儲中間結果的磁盤文件2，是存儲上述提取出電路元件及電路互連表的信息； S7步驟：MASK 4技術，將上述磁盤文件2中存儲的提取出電路元件及電路互連表的信息，輸出壹張關於電路原理圖的表格； S8步驟：MASK 5技術，將上述磁盤文件2中存儲的提取出電路元件及電路互連表的信息，繪制電路原理圖，輸出壹張直觀的電路原理圖。