壹般來說，妳可以選擇使用數字萬用表來快速判斷IGBT的質量。用萬用表的二極管檔測試FWD芯片是否正常；用電阻檔判斷CE、ge、GC是否短路；使用電容文件測試門是否正常。但這些方法只能作為初步的判別手段，不具有普適性。如果想更準確地判斷IGBT失敗的原因，就需要使用特殊的測試設備。
IGBT全動態參數測試設備是由深圳市微宇佳智能控制有限公司研發制造的專業測試設備，可測試SiC IGBT的導通、關斷、短路、柵極充電、二極管反向恢復等動態參數。同時還可以測試單管、半橋、四芯、六芯、PIM等大多數封裝的IGBT模塊和DBC。
該測試設備為半自動，可自動上下料，並具有自動短路測試和Qg測試功能。最大電壓和電流規格為2000V/2000A，最大短路電流為5000A，更高的電壓和電流規格可根據用戶需求定制。其測試夾具采用壓接方式，連接電感小，即插即用，夾具更換方便，兼容各種封裝模塊和DBC。此外，該裝置采用軟硬件結合的過流保護機制，保護速度快(
深圳市威宇佳是壹家以IGBT、MOSFET、SiC為主要功率半導體的測試設備研發和制造企業。該公司開發的IGBT動態測試設備(1500V/2000A)為國內首創，已被國內多家大型IGBT功率半導體模塊廠商批量應用。公司成為國內首家電動汽車IGBT動態測試設備制造商，並通過ISO9001質量體系認證，獲得多項專利和軟件著作權。
公司開發制造的產品包括IGBT動態參數測試設備、PIM & amp；不斷開發單管IGBT專用動態設備、IGBT靜態參數測試設備、功率半導體測試平臺、高壓安全試驗箱、可調空心電感器、動靜態參數自動測試設備等。為滿足功率半導體檢測和應用的更多新技術要求提供了可能。