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評價儲層含油氣性的測井解釋方法

評價儲層含油性的方法有依靠解釋人員經驗的定性方法;快速直觀解釋方法;計算機解釋方法。

◎定性解釋的方法:油氣層最小電阻率法、標準水層對比法、徑向電阻率法、鄰井曲線對比法、不同時間的測井曲線對比法 (也稱時間推移測井法) 等。

◎快速直觀解釋方法:交繪圖法、曲線重疊法等。

◎計算機解釋方法:隨著計算機的廣泛應用,測井解釋的定量化有了很大發展。針對純砂巖、泥質砂巖 (包括分散狀泥質、層狀泥質等),都形成了各自的解釋模型,並建立了不少解釋程序。這些研究成果與定量解釋的孔隙度、含水飽和度、滲透率等,為準確判斷油、氣、水層奠定了良好基礎。下面重點介紹快速直觀解釋方法和計算機解釋方法中的解釋模型。

(壹) 交繪圖法

1. 電阻率-孔隙度交繪圖

電阻率-孔隙度交繪圖是應用阿爾奇公式的壹種常用的快速直觀解釋技術。它的特點是形象直觀,既能定性區分油、氣、水層,又可半定量地確定含水飽和度Sw。將阿爾奇公式:

油氣田開發地質學

變換為:

油氣田開發地質學

對於特定地區和巖性的某壹解釋層段,系數a,b和指數m,n可視為常量。若巖性和Rw基本不變,則對於給定的含水飽和度Sw, 線性關系。

從上式可知,交繪圖的橫軸φ可按線性刻度,也可用任壹孔隙度測井的讀數 (如△t)代替,而縱軸Rt要按 m。圖5-5是對a=0.62,b=1,m=2.15,n=2的砂巖儲層作的。作圖方法:原點Y=0對應Rt=∞。縱軸的上限決定於儲層的最低電阻率,本例取Rmin=0.5Ω·m,則Y=1.38,也就是Rt=0.5至原點Rt=∞的距離為1.38個單位。Rt=1Ω·m時,Y=1,則Rt=1至原點Rt=∞的距離為1個單位。同理可得其他電阻率刻度。

圖右邊為壹個I-Sw算尺 (左刻度是I,右刻度是Sw)。該尺與縱坐標軸平行,對應縱軸原點的電阻增大系數I為∞,而I=1要對準電阻率的壹個整數,它是對應某壹Rw和某壹個含水飽和度100%的巖石的電阻率值,其他I值按Rt=I×R0計算標出。Sw的數值則根據I-Sw關系標出 (不同的a,b,m,n值交繪圖的刻度有所不同,但原理是壹樣的)。

上述工作做完後,將解釋井段內的每個儲層的數據都標註在該電阻率-孔隙度交繪圖上。然後找出巖性純、有足夠厚度、測井讀數可靠、沒有油氣顯示的水層,水線 (含水飽和度為100%的線) 應當是過這些純水層點和原點 (孔隙度為零的橫軸點) 的直線。這樣確定的水線應當經過水資料和其他可靠資料驗證後方可使用。

圖5-5 電阻率-孔隙度交繪圖

確定水線的正確位置後,用右邊的I-Sw算尺繪制含水飽和度Sw線。作法:在水線上找到I=1的點,過該點作橫軸垂線與過I-Sw算尺上某壹Sw點作縱軸垂線有壹交點。過該交點與原點的直線即為含水飽和度為Sw的線。如此便可得到壹組Sw線。

含水飽和度線作出後,根據解釋層資料點在該交繪圖上的位置,可以直觀地判斷其含油性,也可半定量地獲得Sw值。壹般地,資料點落在Sw=50%線下、φ (孔隙度) >10%的儲層為油層,φ≤10%的儲層為幹層。如圖5-5第(4),(5),(9),(10)層為油層,第(3),(7)層為幹層,第(4),(5),(9),(10)層的Sw分別為43%,47%,26%,21%。

電阻率-孔隙度交繪圖的派生方法有:電阻率-聲波交繪圖、電阻率-密度交繪圖等。所有這些交繪圖的使用條件是穩定、巖性相同、含泥質較少及有足夠數量的水層,並且水層孔隙度最好有較大的變化範圍。

2. Rwa (視地層水電阻率) -SP (自然電位) 交繪圖

砂泥巖剖面地層中,如果地層水礦化度變化較大,地層水電阻率Rw不易確定,從而使油水層的判斷發生困難。在這種情況下,可采用視地層水電阻率Rwa-SP交繪圖估計Rw,並劃分油水層。

Rwa-SP交繪圖如圖5-6所示,以對數的Rwa為縱坐標,線性刻度的SP為橫坐標,Rwa由深探測電阻率求得 (Rwa=Rt/F)。圖中地層點旁標註有層點號,括號內是以API為單位的GR值,Rwa線和Rw線 (虛線) 是解釋參考線,Rmfe為泥漿濾液等效電阻率。

圖5-6 Rwa-SP交繪圖 (T=150℉,Rmfe=0.7Ω·m)

交繪圖中位置最低的壹些點子連成壹直線 (圖中虛線),即為實際的地層水電阻率線,可以用它估計解釋層的Rw。例如由第14層點作縱軸平行線與Rw線有壹交點,則該交點的縱坐標值即為第14層的Rw=0.35Ω·m。

圖中位於Rw線附近的地層點是水層,如圖中2,6,7,9,15地層點;在Rw線上方且離得較遠的地層點則是含油氣地層,如圖中且14,3,5,11地層點;其余地層點則要作綜合分析。井壁取心證明,3,5號地層點有油,11,14號地層點有氣。

Rwa-SP交繪圖適用於砂泥巖剖面地層,且地層水性質變化較大的情況。它要求儲層較純,因為只有含泥質小時,交繪圖中SP的變化才能被認為主要是由Rw變化引起的。

以上是兩種常用的交繪圖,還有許多其他交繪圖,這裏不再壹壹列舉。

(二) 曲線重疊法

曲線重疊法也是以阿爾奇公式為基礎,壹般采用相同的刻度 (相同的單位)、相同的基線及相同的橫向比例,將兩條曲線繪制在壹起形成重疊,根據曲線幅度差識別儲層含油氣性。

1. R0與深探測電阻率重疊

對於任何壹個巖性比較純的地層,不論它是含油氣的或是純水層,都可以由F-φ關系式來確定含水飽和度為100%時的電阻率:

R0=FRw=aRw/Фm

式中:R0——含水飽和度為100%時的地層電阻率,Ω·m;Rw——地層水電阻率,Ω·m;φ——地層孔隙度,小數;a——與巖石性質有關的常數;m——膠結指數。

將R0和Rt重疊繪制在壹起,可根據兩條曲線的幅度差來識別油氣層。

如果儲層的R0曲線與深探測電阻率曲線基本重合 (圖5-7,該圖下部),說明是水層;如果深探測電阻率值Rt明顯大於R0,如Rt/R0≥3~5,則是明顯含油氣的顯示 (圖5-7,該圖上部)。

2. 徑向電阻率重疊法

根據阿爾奇公式有 (b=1,n=2):

油氣田開發地質學

將兩式左右兩邊分別相除得:

油氣田開發地質學

式中:Sw——地層含水飽和度,小數;Sxo——沖洗帶含水飽和度,小數;Rt——地層電阻率,Ω· m;Rxo——沖洗帶電阻率,Ω·m;Rw——地層水電阻率,Ω·m;Rmf——泥漿濾液電阻率,Ω·m。

上式說明了徑向電阻率比值Rxo/Rt與徑向含水飽和度比值Sw/Sxo有關。下面分幾種情況加以討論。

圖5-7 R0與深探測電阻率重疊圖

(1) 泥巖層

泥巖地層是壹種非滲透層,泥漿不會發生侵入,故應有Rt≈Rxo,即Rt曲線與Rxo曲線基本重合。如果泥巖段Rt曲線與Rxo曲線不重合,則視Rxo曲線存在誤差,以Rt曲線為準,移動Rxo曲線使之與Rt曲線重合。

(2) 純水層

純水層為滲透性地層,將會產生泥漿侵入,但Sw=Sxo。根據泥漿濾液與地層水性質之間的關系,可有3種情況。當Rmf=Rw時,顯然有Rxo=Rt,即Rxo曲線與Rt曲線重合;當Rmf>Rw時,則Rxo>Rt;當Rmf<Rw時,則Rxo <Rt。

圖5-8 徑向電阻率曲線重疊圖

如圖5-8下部,本例深側向電阻率RLLD為Rt曲線,微側向電阻率RMLL為Rxo曲線,Rmf/Rw=3.0,曲線下部Rxo>Rt,所以該層段為水層。

(3) 油氣層

對於中等侵入的地層,有經驗關系

油氣田開發地質學

油氣田開發地質學

若Rmf=Rw,則:

油氣田開發地質學

上式說明,當Rmf=Rw時,純水層Sw=Sxo=1,則Rxo與Rt重合;含油氣層Sw <1,則:

油氣田開發地質學

和水層相比,油氣層都有比較明顯的減阻侵入,因此,在含有油氣的儲層處顯示出Rt>Rxo的幅度差,可作為指示油氣層的壹種標誌 (圖5-8上部)。

3. 孔隙度重疊圖

“可動油氣” 是指儲層在壹定壓差下可以流動的油氣。測井分析可動油氣,是依據泥漿侵入造成的沖洗帶與原狀地層含水飽和度的差別,其差值為可動油氣飽和度。壹般來說,當測井顯示含油性和可動油氣都好時,說明儲層有較好的生產能力;而含油性顯示好、可動油顯示差時,應慎重分析。

可動油氣顯示實際上是通過原狀地層與沖洗帶之間含油氣情況的比較而表現出來的,因此,分別計算原狀地層和沖洗帶的含水孔隙度,采用重疊的形式可以直觀顯示可動油氣。孔隙度重疊是目前計算機解釋成果圖必不可少的壹部分。它壹般包括3條孔隙度曲線:地層孔隙度φ、原狀地層含水孔隙度φw=φ·Sw、沖洗帶含水孔隙度φxo=φ·Sxo。顯然它們這之間有如下關系:

◎含油氣孔隙度:φh=φ-φw;

◎殘余油氣孔隙度:φhr=φ-φxo;

◎可動油氣孔隙度:φhm=φxo-φw。

這樣,通過使用同壹基線、同壹橫向比例繪制的3條孔隙度曲線,可以有效地反映地層的含油性和可動油氣 (圖5-9)。

應用孔隙度重疊法的有利條件是:(1)鉆井液侵入必須足夠淺,使深探測電阻率基本上反映地層真電阻率;(2)解釋井段應包括許多儲層,特別是有明顯的純水層;(3)在解釋井段內地層水性質基本穩定;(4)巖性和泥質含量應基本不變。

由F=aφ-m知,3條孔隙度曲線可以導出3條地層因素曲線即F曲線、Fw曲線及Fxo曲線,將這3條地層因素曲線重疊,可以得到與孔隙度重疊同樣的效果。因此地層因素重疊與孔隙度重疊實質上是壹致的。

4. 可動水分析

“可動水”是儲層中可以流動的地層水。可動水飽和度是指地層含水飽和度與束縛水飽和度之差。用可動水的概念,可以幫助判斷儲層能否無水產油氣,並可預測含水量。

根據可動水飽和度和束縛水飽和度的概念,顯然有Sw=Swi+Swm。按照油氣、水層的概念,判斷它們的條件是:

◎油 氣 層:Sw≈Swi,Swm=0,Sw較低;

◎水 層:Sw>>Swi,Swm>>0;

◎油水同層:介於油氣與水層之間;

◎幹 層:Sw≈Swi,Swm=0,Sw較高。

因此,若具有獨立來源的Sw和Swi,可以將Sw和Swi重疊直觀顯示地層的可動水飽和度的變化 (圖5-9):當Sw>Swi,則兩條曲線的幅度差即是可動水飽和度。如果Swi與Sw基本重合,表明地層不含可動水,Sw較低為油氣層,而Swi很大則可能為幹層。當出現Sw <Swi的幅度差,則是計算的Sw與Swi不匹配引起的,此時Sw較低者為油氣層,Sw很高者為幹層。

圖5-9 儲層可動油和可動水分析成果圖

5.聲波時差-中子伽馬曲線重疊定性判斷氣層

這種方法的具體做法是:兩條曲線的縱向比例相同,反方向刻度。在解釋井段內找壹個與目的層巖性相同、孔隙性相近的水層 (或低氣油比的油層),將兩條曲線重合,並將兩條曲線重疊繪制。

在探測範圍內,儲層含氣將會使測井聲波時差增大,使中子伽馬測井值增高。因此,重疊圖上,對於氣層,將會出現 “正差異” (中子伽馬曲線在聲波時差曲線右邊);對於油水層,兩曲線重合;對於泥巖,重疊曲線出現 “負差異” (中子伽馬曲線在聲波時差曲線左邊)。如圖5-10所示的聲波時差-中子伽馬曲線重疊,直觀地表明第A層為氣層。

6. 中子孔隙度-密度測井曲線重疊法

將兩條測井曲線刻度在同壹記錄道內。由於天然氣的含氫指數和體積密度都比油或水小得多,因而對於含氣儲層,中子孔隙度測井顯示低孔隙度,密度測井顯示出孔隙度減小,重疊圖上將出現明顯的幅度差,且呈鏡像反映圖像 (圖5-11)。但鉆井液侵入使幅度差減小,而泥質砂巖含氣和含水時出現相反的幅度。所以對泥質含量較低的、泥漿侵入淺的、中到高孔隙度的砂巖氣層,中子孔隙度-密度測井曲線重疊圖應用效果最好。

圖5-10 用聲波時差-中子伽馬曲線重疊法判斷氣層實例

圖5-11 中子孔隙度-密度測井曲線重疊指示氣層

(三) 含油飽和度的求取方法

含油飽和度是儲層含油性的主要指標,是定量判斷油、氣、水層的重要標準之壹,因此能否準確求取含油飽和度直接影響到對油、氣、層的判斷。

含水飽和度Sw是儲層巖石孔隙中被水充填的孔隙體積占總孔隙體積的百分數,因此,1-Sw即為含油氣飽和度So。

儲層中影響含水飽和度的因素是多種多樣的,但泥質在儲層中的含量及分布形式是影響Sw的最主要的因素。泥質分布形式不同對巖石電阻率的影響也不同,所以用電阻率求含水飽和度的方法也不同。下面介紹目前常規測井處理解釋程序中使用的幾種方法。

1. 純巖石儲層

在具有均勻粒間孔隙的純巖石地層中,根據阿爾奇含水飽和度公式有:

油氣田開發地質學

壹般,取b=1,n=2,a=0.6~1.5,m=1.5~3.0。

2.層狀泥質砂巖儲層

假若巖層中純砂巖與泥巖呈互層狀分布時,則巖層電阻率Rt與泥巖層電阻率Rlam和純砂巖層電阻率Rsd間關系為:

油氣田開發地質學

式中:Rt——巖層電阻率,Ω·m;Rlam——泥巖層電阻率,Ω·m;Rsd——純砂巖層電阻率,Ω·m;Vlam——層狀泥巖相對含量,小數。

對於純砂巖層的阿爾奇公式:

油氣田開發地質學

式中:φsd——純砂巖部分的孔隙度,小數 (φsd=φ/(1-Vlam),φ為層狀泥質砂巖的有效孔隙度)。

於是由上式可以推出:

油氣田開發地質學

上式中Rlam通常用鄰近泥巖電阻率Rsh代替。該式對純砂巖和層狀泥質砂巖都適用。

3.分散泥質砂巖儲層

這種儲層的特點是泥質充填或粘結在巖石的孔隙空間中,保存有較多的束縛水。

對於這類儲層,求取含水飽和度的方法較多,主要有如下幾種。

(1) “印度尼西亞” 公式

油氣田開發地質學

式中:Vsh——粘土相對含量,小數;Rsh——粘土電阻率,Ω·m。

(2) 西門杜 (Simandoux) 公式

油氣田開發地質學

該式適用於地層水礦化度較低 (小於5000mg/L) 的地區。

(3) 雙水模型公式

該模型把地層中的水,分為粘土水 (束縛水) 和自由水 (遠水) 兩種,並且認為這兩種水的導電性質不壹樣,則阿爾奇含水飽和度公式變為:

油氣田開發地質學

式中:Ct——未侵入部分原狀地層的電導率,mS/m;Cwe——孔隙空間中水的等效電導率,mS/m;φt——總孔隙度,小數;Swt——總含水飽和度,小數。

水的等效電導率為:

油氣田開發地質學

式中:Vw,Vwb——分別為地層水和束縛水的體積占孔隙體積的百分數,小數;Cw,Cwi——分別為地層水和束縛水的電導率,mS/m。

用飽和度表示時,上式變為:

油氣田開發地質學

或者

油氣田開發地質學

則飽和度方程式變為:

油氣田開發地質學

砂巖 (純地層) 相 (即非粘土相) 的孔隙度和含水飽和度,可以通過減去束縛水體積 (φt·Swi) 得出。因此,有效孔隙度為:

Ф=Фt(1-Swi)

可動水飽和度為:

油氣田開發地質學

上面的公式中的參數φt由中子孔隙度-密度交繪圖給出,Swi可以根據各種對泥質敏感的測量方法 (SP,GR,φN,Rt,φN -ρb,△t -ρb等) 得出。Rwi和Rw (Cwi和Cw) 通常作為輸入參數。

4. m,n,a,b,Rw的確定

(1) a和m的確定

巖石的a和m值與孔隙度大小及孔隙形狀有關,而孔隙度和孔隙形狀取決定巖石性質、巖石顆粒的粗細、分選好壞、膠結物的性質、膠結物含量及膠結程度等。1) 實驗室確定F-φ關系

由式 兩邊取對數,則:

lg(Ro/Rw)=lga-mlgФ

由壹組F (Ro/Rw) 和φ的實驗數據,在雙對數坐標紙上,其關系是壹條直線,φ=100%時該直線在縱坐標的數值為a,直線的斜率為m。例如某開發區實驗室求得的m=1.8369,a=1.1466。

2) 利用純水層資料確定F-φ關系

選擇壹純水層段,在該層段內有多個巖性較純、物性 (主要指孔隙度) 有所變化、錄井未見顯示的儲層。通過自然電位等測井資料分析,確認該層段的地層水電阻率穩定。最理想的是該層段內有地層水礦化度分析資料。在該層段內確定每壹層的Ro/Rw和φ,用上述方法確定a和m。

(2) b和n的確定

1) 實驗室確定b和n的方法

兩邊取對數:

lg(Rt/Ro)=lgb-nlgSw

給定幾對Rt/Ro,Sw數據,用回歸方法求得b和n。實驗室可用不同的方法確定Rt/Ro、Sw,早期使用的方法有 “失水法”、“氣吹法”,目前采用 “半滲透隔板法” 是比較好的壹種方法。

2) 利用油層測井資料求取b和n

純油層的含油飽和度與束縛水飽和度之和為100%。即:

Swi=(1-Sh), Sw-Swi

在已知Rw的條件下,求取壹組Rt,φ。由Rw和φ求得油層Ro。將壹組油層的Rt/Ro和Swi點在雙對坐標上,根據點子分布規律作直線,求得直線的斜率n,縱坐標截距b。

3) 利用巖心分析的含油飽和度求b和n

利用油基鉆井液和密閉取心的巖心,得到的巖心含油飽和度和含水飽和度,采用上述方法求取b和n。

(3) 地層水電阻率Rw的確定

飽和度方程中的地層水電阻率可用以下4種方法確定。

1) 用試油的地層水礦化度折算

依據試油資料獲得的地層水礦化度折算成等效總礦化度,再確定井深條件下的地層水電阻率。計算公式是斯侖貝謝公司等效NaCl溶液總礦化度與電阻率、溫度的關系圖版。公式如下:

油氣田開發地質學

式中:P——等效NaCl總礦化度,mg/L;T——地層溫度,℉;Rw——地層水電阻率,Ω·m。

2) 孔隙度與電阻率組合計算地層水電阻率

在解釋井段找出確定地層水電阻率的標準水層,它應該是完全含水、巖性均勻、含泥質少、厚度足夠大的水層,地層水電阻率計算公式為Rw=Ro·φm/a。

3) 用自然電位曲線幅度計算地層水電阻率

井中擴散吸附電動勢可表示為:

對於純砂巖:

油氣田開發地質學

對於純泥巖:

油氣田開發地質學

式中:Ed,Eda——擴散吸附電動勢,mV;Kd,Kda——擴散吸附電動勢系數 (t=18℃時,純砂巖層為-11.6mV,純泥巖層為58mV,其他巖層介於上述兩者之間);Cw——地層水鹽濃度 (礦化度),mg/L;Cwf——泥漿濾液的鹽濃度 (礦化度),mg/L。

靜自然電位:

油氣田開發地質學

當地層水或鉆井液中鹽濃度較高時,引入地層水等效電阻率Rwe和泥漿濾液等效電阻率Rmfe,則有:

油氣田開發地質學

以上關系式便是自然電位測井確定地層水電阻率的理論依據。具有求時,先用SP經SP-3圖版校正得SSP,然後用泥漿電阻率Rm經圖版求得Rmf,再用圖版校正得Rmfe,再後用SSP和Rmfe由SP-1圖版求得Rwe,由SP-2圖版求得Rw。

4) 用深淺電阻率比值計算地層水電阻率

在解釋井段確定純水層,對於純水層地層的含水飽和度和沖洗帶的含水飽和度都為100%,通過阿爾奇公式:

油氣田開發地質學

油氣田開發地質學

在已知Rmf的條件下,可以由深感應 (或深側向)值代表Ro,由八側向 (或微側向)值代表Rxo。

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